X射線熒光分析的原理及應(yīng)用

 X射線熒光分析(XRF)——是對(duì)任何種類的樣品進(jìn)行元素分析的好分析技術(shù)，無(wú)論必需分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF可以將高的準(zhǔn)確度和精密度與簡(jiǎn)單和快速的樣品準(zhǔn)備結(jié)合，對(duì)鈹 (Be) 到鈾 (U) 的元素喜遷分析，濃度范圍從 100 % 到低至亞 ppm 級(jí)。
 

　　作為一種確定各種材料化學(xué)組成的一種分析方法，XRF的被測(cè)材料可以是固體、液體、粉末或其它形式。XRF還可測(cè)定鍍層和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、準(zhǔn)確度高、不破壞樣品及樣品前處理簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。應(yīng)用范圍廣泛，涉及金屬、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及礦物、地質(zhì)和環(huán)境等領(lǐng)域，在醫(yī)藥研究方面，XRF也是一種非常有用的分析方法。
 

　　X熒光光譜儀可分為能量色散(EDXRF)和波長(zhǎng)色散(WDXRF)兩大類，隨后將詳細(xì)介紹。可分析的元素及檢測(cè)限主要取決于所用的光譜儀系統(tǒng)。EDXRF分析的元素從Na到U； WDXRF分析的元素從Be到U。濃度范圍從ppm到100%。通常重元素的檢測(cè)限優(yōu)于輕元素。